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信息存储应用技术
  • 存储器装置的操作方法
    存储器装置的操作方法_旺宏电子股份有限公司_202410809511.1
    本发明提供一种存储器装置的操作方法，包括下列步骤。提供存储器装置，存储器装置包括：多个第一电极，多个第二电极以及多个存储层，其中第一电极、第二电极与存储层的交叉位置形成多个存储单元。在存储单元中选择一选定存储单元。施加‑2/3V于第二电极中...
    2025-08-02
  • 一种异步共识算法性能测试系统及方法
    一种异步共识算法性能测试系统及方法_山东大学_202310079941.8
    本发明提供了一种异步共识算法性能测试系统及方法，本发明以解析模块来调动其他模块进行测试工作，为用户隐藏了测试繁琐的过程实现测试过程的自动化。本发明还通过部署模块中的部署脚本来传输指定的异步共识算法编译后的文件让部署过程更简洁能更好适用新实现...
    2025-08-02
  • 一种具有过载保护功能的智能电能表
    一种具有过载保护功能的智能电能表_安徽融兆智能有限公司_202510616435.7
    本申请涉及一种具有过载保护功能的智能电能表，涉及电气工程技术领域，本申请的保护机构通过双金属片弯曲来让圆筒漏气带动主活塞移动，进而带动副电片移动解除与主电片连接实现过载保护，由于只需双金属片轻微弯曲带动密封板轻微上升即可让圆筒漏气，进而此机...
    2025-08-02
  • 存储器测试电路
    存储器测试电路_晶豪科技股份有限公司_202010908118.X
    本发明提供一种存储器测试电路，包含：一第一闭锁电路，用以接收一第一输入地址和一错误指示信号，以产生一第一地址；一第一电子熔丝群，用以接收该第一地址以产生一输出地址；一第二闭锁电路，用以接收该错误指示信号；一第二电子熔丝群，用以根据该第二闭锁...
    2025-08-02
  • 存储器装置、具有其的存储器系统及其操作方法
    存储器装置、具有其的存储器系统及其操作方法_三星电子株式会社_202411256357.6
    公开了一种存储器装置、具有其的存储器系统及其操作方法。所述操作存储器装置的方法包括：接收正交时钟并以非顺序方案执行正交时钟的正交误差校正，其中，正交时钟包括具有顺序相位的第一时钟、第二时钟、第三时钟和第四时钟。
    2025-08-02
  • 一种系统内核故障解决方法、装置、设备及存储介质
    一种系统内核故障解决方法、装置、设备及存储介质_浪潮云信息技术股份公司_202510624638.0
    本申请公开了一种系统内核故障解决方法、装置、设备及存储介质，涉及操作系统领域，包括：基于崩溃数据得到故障函数的第一地址，根据故障函数确定测试用例函数，将第一地址替换为测试用例函数的第二地址得到测试用例内核数据；基于测试用例内核数据获取第一测...
    2025-08-02
  • 一种直接表换表连接装置及不停电、不损失电量换表方法
    一种直接表换表连接装置及不停电、不损失电量换表方法_国网安徽省电力有限公司合肥供电公司_202410431977.2
    一种直接表换表连接装置及不停电、不损失电量换表方法，属于供电计量技术领域，解决电能表换表过程中存在的停电及不计量的问题；本发明通过设计直接表换表连接装置，采用直接表换表连接装置将新表与工作中的旧表并联，此阶段新表与旧表共同计量；拆除工作中的...
    2025-08-02
  • 一种基于自动测试的联锁控显系统及方法
    一种基于自动测试的联锁控显系统及方法_北京全路通信信号研究设计院集团有限公司_202510854676.5
    本发明涉及轨道交通技术领域，公开了一种基于自动测试的联锁控显系统及方法，所述系统包括交互层、业务层、接口层、数据层以及支撑层，其中，所述业务层包括测试执行模块，所述测试执行模块用于基于实验表格中的测试步骤发送测试执行命令至支撑层；所述支撑层...
    2025-08-02
  • 一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备
    一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备_成都星拓微电子科技股份有限公司_202510473647.4
    本发明提供了一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备，涉及芯片验证领域。该方法包括：获取待测系统级芯片的原始寄存器表单。其中，原始寄存器表单包含待测系统级芯片中所有寄存器的配置参数。解析原始寄存器表单以生成第一寄存器测试表单，并根据第一寄存...
    2025-08-02
  • 一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备
    一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备_深圳市德赛西威汽车电子有限公司_202510256195.4
    本发明实施例涉及计算机通信技术领域，公开了一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备，所述测量方法包括步骤：在MCU Hypervisor系统需要监控的时序事件处添加对应的时序事件监控接口；MCU Hyperv...
    2025-08-02
  • 一种业务监控方法、装置、介质及设备
    一种业务监控方法、装置、介质及设备_平安付电子支付有限公司_202510443957.1
    本申请涉及金融领域以及计算机技术领域，具体公开了一种业务监控方法、装置、介质及设备。其中，方法包括：针对待监控的目标业务的目标接口，获取目标接口当前业务量大于平均业务量阈值时的当前平均响应时间；基于当前平均响应时间，采用与目标业务对应的第一...
    2025-08-02
  • 一种GPU显卡的测试方法、装置及相关产品
    一种GPU显卡的测试方法、装置及相关产品_腾讯科技(深圳)有限公司_202410109533.7
    本申请公开一种GPU显卡的测试方法、装置及相关产品。本申请方法包括：在测试增大功率下对待测试GPU显卡进行测试，获得待测试GPU显卡在测试增大功率下的测试异常点，以及在测试增大温度下对待测试GPU显卡进行测试，获得待测试GPU显卡在测试增大...
    2025-08-02
  • 存储芯片的测试电路及测试系统
    存储芯片的测试电路及测试系统_成都态坦测试科技有限公司_202422352704.7
    本实用新型提供了一种存储芯片的测试电路及测试系统，包括：测试电路和多个子测试电路；测试电路设置有可编程的逻辑阵列和多个I/O扩展电路；可编程的逻辑阵列通过多个I/O扩展电路扩展可编程的逻辑阵列的管脚，得到多个测试管脚；不同的子测试电路设置不...
    2025-08-02
  • 录音笔
    录音笔_科大讯飞股份有限公司_202422415811.X
    本实用新型涉及电子产品技术领域，提供一种录音笔，包括：壳体、主板、摄像模组和麦克风模组；壳体具有容纳腔，主板、摄像模组和麦克风模组分别设于容纳腔，麦克风模组的一侧设有用于收容摄像模组的容置区间，至少部分摄像模组设于容置区间；摄像模组包括摄像...
    2025-08-02
  • 一种点扫描形貌仪高度方向跳动误差的校正方法
    一种点扫描形貌仪高度方向跳动误差的校正方法_天津大学_202510888193.7
    本发明公开了一种点扫描形貌仪高度方向跳动误差的校正方法，解决了现有技术中点扫描形貌仪存在高度方向的跳动误差、测量精度低的问题。本发明误差校正方法采用的点扫描形貌仪包括底座，底座上设有龙门立柱和Y向直驱运动台，龙门立柱上设有竖向丝杆模组，竖向...
    2025-08-02
  • 数据库数据备份方法、装置、设备和存储介质
    数据库数据备份方法、装置、设备和存储介质_江苏华库数据技术有限公司_202510875400.5
    本发明提供了一种数据库数据备份方法、装置、设备和存储介质。可以应用于云计算领域。该方法包括：响应于接收到的数据备份请求，根据服务器集群中各分片集群内备节点的性能指标，动态选取各分片集群的目标节点；在确定各分片集群中目标节点完成对主节点的基础...
    2025-08-02
  • 一种内置RRAM微控制器的筛选测试方法及系统
    一种内置RRAM微控制器的筛选测试方法及系统_北京微电子技术研究所_202510365566.2
    本发明属于芯片筛选测试技术领域，具体涉及了一种内置RRAM微控制器的筛选测试方法及系统，旨在解决现有筛选测试效率低的问题。本发明编程功能测试使用编程器验证多频率波特率条件下编程模块功能；字节读测试使用编程器向片内RRAM写入特定码型组，在E...
    2025-08-02
  • 半导体器件的椭偏测量方法及系统、光学模型的优化方法
    半导体器件的椭偏测量方法及系统、光学模型的优化方法_睿励科学仪器(上海)有限公司_202510438888.5
    本发明提供了半导体器件的椭偏测量方法、系统及存储介质。所述半导体器件的椭偏测量方法包括以下步骤：获取测量机台的第一光学模型；根据多个预设的检测波段，对所述第一光谱在多个波长位置的光滑性参数进行积分，以确定所述第一光谱在各所述检测波段的噪声，...
    2025-08-02
  • 一种高覆盖产线智能座舱测试方法及系统
    一种高覆盖产线智能座舱测试方法及系统_启明信息技术股份有限公司_202510507641.4
    本发明公开了一种高覆盖产线智能座舱测试方法及系统，该方法包括如下步骤：S1：导入车型测试需求；S2：座舱测试台架搭建，以实现智能座舱系统UI交互测试、语音交互测试、动作响应时间及流畅度评价测试；S3：座舱测试开发，设计对应的文本测试用例，针...
    2025-08-02
  • 一种ATE设备中快速读取TDC芯片数据的方法及系统
    一种ATE设备中快速读取TDC芯片数据的方法及系统_上海御渡半导体科技有限公司_202510458854.2
    本发明涉及半导体自动化测试设备领域，特别是涉及一种ATE设备中快速读取TDC芯片数据的方法及系统，特别是在半导体自动化测试设备中，解决当前ATE设备在读取TDC芯片数据时读取效率低下和时间消耗的问题。通过为每个TDC芯片分配独立数据通道，并...
    2025-08-02
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