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信息存储应用技术
  • 本申请涉及一种具有过载保护功能的智能电能表,涉及电气工程技术领域,本申请的保护机构通过双金属片弯曲来让圆筒漏气带动主活塞移动,进而带动副电片移动解除与主电片连接实现过载保护,由于只需双金属片轻微弯曲带动密封板轻微上升即可让圆筒漏气,进而此机...
  • 本公开实施例提供一种故障修复方法、装置、设备、计算机可读存储介质及产品,该方法包括:获取云端服务器发送的针对目标函数的修复文件,修复文件包括目标函数关联的定位信息以及修复信息,定位信息用于在目标应用关联的源码文件中定位目标函数,修复信息包括...
  • 本公开提供一种频率确定方法、装置、电子设备、介质及芯片,涉及频率确定技术领域,该方法包括:确定多个模块中每个模块的性能参数;基于每个模块的性能参数,确定每个模块的性能模型和功耗模型;基于每个模块的性能模型和功耗模型,确定多个模块的能效优化模...
  • 本发明提供一种存储器测试电路,包含:一第一闭锁电路,用以接收一第一输入地址和一错误指示信号,以产生一第一地址;一第一电子熔丝群,用以接收该第一地址以产生一输出地址;一第二闭锁电路,用以接收该错误指示信号;一第二电子熔丝群,用以根据该第二闭锁...
  • 本发明提供一种存储器装置的操作方法,包括下列步骤。提供存储器装置,存储器装置包括:多个第一电极,多个第二电极以及多个存储层,其中第一电极、第二电极与存储层的交叉位置形成多个存储单元。在存储单元中选择一选定存储单元。施加‑2/3V于第二电极中...
  • 本发明涉及轨道交通技术领域,公开了一种基于自动测试的联锁控显系统及方法,所述系统包括交互层、业务层、接口层、数据层以及支撑层,其中,所述业务层包括测试执行模块,所述测试执行模块用于基于实验表格中的测试步骤发送测试执行命令至支撑层;所述支撑层...
  • 本发明提供了一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备,涉及芯片验证领域。该方法包括:获取待测系统级芯片的原始寄存器表单。其中,原始寄存器表单包含待测系统级芯片中所有寄存器的配置参数。解析原始寄存器表单以生成第一寄存器测试表单,并根据第一寄存...
  • 本发明实施例涉及计算机通信技术领域,公开了一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备,所述测量方法包括步骤:在MCU Hypervisor系统需要监控的时序事件处添加对应的时序事件监控接口;MCU Hyperv...
  • 本发明提供了半导体器件的椭偏测量方法、系统及存储介质。所述半导体器件的椭偏测量方法包括以下步骤:获取测量机台的第一光学模型;根据多个预设的检测波段,对所述第一光谱在多个波长位置的光滑性参数进行积分,以确定所述第一光谱在各所述检测波段的噪声,...
  • 本发明公开了一种ABF载板层偏的检测装置及检测方法,包括:隔振平台;隔振平台的一侧设置有连接架;隔振平台上方设置有第一调节机构,第一调节机构上设置有吸附平台,用以使吸附平台沿第一调节机构的设置方向往复移动;连接架上设置有第二调节机构,第二调...
  • 本发明公开了一种高覆盖产线智能座舱测试方法及系统,该方法包括如下步骤:S1:导入车型测试需求;S2:座舱测试台架搭建,以实现智能座舱系统UI交互测试、语音交互测试、动作响应时间及流畅度评价测试;S3:座舱测试开发,设计对应的文本测试用例,针...
  • 本申请提供一种安装组件、麦弗逊空气弹簧支柱总成及车辆。安装组件包括下安装座、上安装座与安装板。所述下安装座用于与弹簧本体固定。所述上安装座与所述下安装座固定。所述安装板套设于下安装座的外侧。所述上安装座与所述安装板之间设置有上轴承组件。所述...
  • 本发明涉及半导体自动化测试设备领域,特别是涉及一种ATE设备中快速读取TDC芯片数据的方法及系统,特别是在半导体自动化测试设备中,解决当前ATE设备在读取TDC芯片数据时读取效率低下和时间消耗的问题。通过为每个TDC芯片分配独立数据通道,并...
  • 一种双定时电路,其被配置为在检测到故障时复位处理器。双定时电路包括配置有第一超时持续时间的启动电路。启动电路可操作以响应于处理器在上电后的第一超时持续时间内未能完成引导加载而断言复位信号。双定时电路还包括配置有第二超时持续时间的操作电路。操...
  • 实施方式提供一种不使可靠性降低且可谋求写入序列的高速化的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备存储晶体管、及连接到存储晶体管的栅极电极的字线。在写入序列的第n次写入循环的第k次验证动作结束后且第k+1次验证动作结束前,写入序列被中断的...
  • 本发明公开了一种现钞箱,涉及银行运钞设备技术领域,包括下壳体和上壳体,所述下壳体的内部固定安装有下箱体,所述上壳体的内部活动设置有上箱体,所述上箱体的内部设置有主动锁死机构,所述上壳体的内部设置有磁吸升降机构,所述主动锁死机构包括两个第一矩...
  • 示例性计算设备包括带内处理器和带外控制器。示例性计算设备还包括机器检查架构,该机器检查架构包括流水线和多个错误检测器。错误检测器被配置为检测在多个电路中发生的错误,并经由流水线向带内处理器和带外控制器报告错误。还公开了各种其他设备、系统和方...
  • 本发明属于芯片筛选测试技术领域,具体涉及了一种内置RRAM微控制器的筛选测试方法及系统,旨在解决现有筛选测试效率低的问题。本发明编程功能测试使用编程器验证多频率波特率条件下编程模块功能;字节读测试使用编程器向片内RRAM写入特定码型组,在E...
  • 本实用新型提供了一种存储芯片的测试电路及测试系统,包括:测试电路和多个子测试电路;测试电路设置有可编程的逻辑阵列和多个I/O扩展电路;可编程的逻辑阵列通过多个I/O扩展电路扩展可编程的逻辑阵列的管脚,得到多个测试管脚;不同的子测试电路设置不...
  • 本实用新型涉及电子产品技术领域,提供一种录音笔,包括:壳体、主板、摄像模组和麦克风模组;壳体具有容纳腔,主板、摄像模组和麦克风模组分别设于容纳腔,麦克风模组的一侧设有用于收容摄像模组的容置区间,至少部分摄像模组设于容置区间;摄像模组包括摄像...
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