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信息存储应用技术
  • DRAM的修复方法、上位机、存储介质及计算机程序产品
    DRAM的修复方法、上位机、存储介质及计算机程序产品_碳芯微电子科技(深圳)有限公司_202510969827.1
    本申请公开了一种DRAM的修复方法、上位机、存储介质及计算机程序产品，涉及DRAM修复技术领域，DRAM的修复方法包括：输入测试程序至所述主控芯片，以使所述主控芯片基于所述测试程序对所述DRAM颗粒进行测试，并根据测试结果确定所述DRAM颗...
    2025-09-07
  • 一种防混料检测设备
    一种防混料检测设备_陕西科达利五金塑胶有限公司_202422260407.X
    本实用新型公开了一种防混料检测设备。防混料检测设备，包括：刻码工装，所述刻码工装顶部开设有卡槽，所述刻码工装上开设有安装孔，所述安装孔内安装有检测组件，所述检测组件与刻码机和报警单元连接，所述检测组件能够对盖板下塑胶的高度进行检测。本实用新...
    2025-09-07
  • 数据接收电路及存储器
    数据接收电路及存储器_长鑫科技集团股份有限公司_202311334229.4
    本公开实施例涉及半导体电路设计领域，提供一种数据接收电路及存储器，数据接收电路包括：比较电路被配置为，放大输入数据以及初始参考电压之间的压差，并输出双端信号作为放大的结果；多条数据路径，每条数据路径均接收双端信号，其中，第i数据路径被配置为...
    2025-09-07
  • 存储器结构以及存储器
    存储器结构以及存储器_长鑫存储技术有限公司_202111270751.1
    本公开提供一种存储器结构以及存储器，涉及集成电路制造技术领域。存储器结构包括多个沿第一方向平行设置、沿第二方向延伸的存储阵列，每两个存储阵列之间设置有一个沿第二方向延伸的灵敏放大器阵列，灵敏放大器阵列包括奇数位灵敏放大器阵列和偶数位灵敏放大...
    2025-09-07
  • 一种非易失性存储器的读写可靠性测试方法
    一种非易失性存储器的读写可靠性测试方法_成都中航华测科技有限公司_202510896627.8
    本发明公开了一种非易失性存储器的读写可靠性测试方法，涉及存储器测试技术领域。包括：获取目标存储器的运行环境参数以及运行强度参数，得到环境信息项以及强度信息项；对环境信息项以及强度信息项进行阶段划分，划分为至少两个环境阶段项以及至少两个强度阶...
    2025-09-07
  • 基于Jenkins的芯片回归测试方法、电子设备和介质
    基于Jenkins的芯片回归测试方法、电子设备和介质_沐曦集成电路(上海)股份有限公司_202510726841.9
    本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于Jenkins的芯片回归测试方法、电子设备和介质，方法包括：S1、获取基础配置信息；S2、对基础配置信息进行校验，若检验通过，则执行S3，否则，生成对应的提示信息，结束流程；S3、将基础配置信息转换为...
    2025-09-07
  • 一种快速定位并修复硬盘硬件故障的系统和方法
    一种快速定位并修复硬盘硬件故障的系统和方法_苏州浪潮智能科技有限公司_202211403282.0
    本发明属于硬盘故障检测技术领域，具体提供一种快速定位并修复硬盘硬件故障的系统和方法，所述方法包括如下步骤：服务器开机，BMC读硬盘硬件在位信号，判断硬盘是否在位；服务器开机后，BMC通过读取PCH传输过来的资产信息文件中的硬盘信息,检查硬盘...
    2025-09-07
  • 一种大尺寸平面变间距光栅共轭差分干涉自校正方法
    一种大尺寸平面变间距光栅共轭差分干涉自校正方法_重庆理工大学_202510765916.4
    本发明公开了一种大尺寸平面变间距光栅共轭差分干涉自校正方法，属于光学测量技术领域，该方法包括：将变间距光栅设置于Littrow自准直状态下，利用激光形貌干涉仪测量变间距光栅的正负一阶衍射波前；对所述正负一阶衍射波前进行差分运算；将所述变间距...
    2025-09-07
  • 一种AI驱动的GraphQL智能接口动态适配方法
    一种AI驱动的GraphQL智能接口动态适配方法_上海才匠智能科技有限公司_202510526933.2
    本发明涉及一种AI驱动的GraphQL智能接口动态适配方法，通过AI自动分析前端页面元素生成GraphQL请求，减少人工干预，提升开发效率并降低错误。技术方案包括：前端元素分析：AI识别页面中的表单、按钮等元素。请求生成：根据元素属性生成G...
    2025-09-07
  • 固态硬盘故障修复方法、装置、计算机设备及存储介质
    固态硬盘故障修复方法、装置、计算机设备及存储介质_苏州元脑智能科技有限公司_202511055964.0
    本申请涉及一种固态硬盘故障修复方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：监测固态硬盘的运行状态；在监测到异常运行状态日志时，根据异常运行状态日志确定故障情况；从固态硬盘的当前版本固件获取与故障情况相关的目标代码；对目标代码进行分析以确定...
    2025-09-07
  • 一种基于压缩存储硬盘模组的测试结构
    一种基于压缩存储硬盘模组的测试结构_深圳市德明利技术股份有限公司_202422749435.8
    本实用新型揭示了一种基于压缩存储硬盘模组的测试结构，涉及内存芯片模组技术领域，包括尾部固定件、闪存模组、散热组件及测试组件；闪存模组固定安装于尾部固定件于测试组件之间；散热组件设置于测试组件与闪存模组之间；测试组件包括测试座压框、第一弹簧、...
    2025-09-07
  • 一种MXene/镍钼硫化物复合材料的制备方法
    一种MXene/镍钼硫化物复合材料的制备方法_长安大学_202510428679.2
    本发明公开了一种MXene/镍钼硫化物复合材料的制备方法，包括如下步骤：将硝酸镍、钼酸钠和尿素按比例放入无水乙醇中搅拌至完全溶解，制备Ni‑Mo前驱体。将硫脲、乙醇和Ni‑Mo前驱体放入烧杯中搅拌均匀后转移至高温反应釜中密封，得到NiMo<...
    2025-09-07
  • 一种结构稳定的单体超级电容
    一种结构稳定的单体超级电容_皋德科技(浙江)有限公司_202422193026.4
    本实用新型公开了一种结构稳定的单体超级电容，涉及超级电容技术领域。其技术方案要点是：包括壳体与电容单体，所述壳体内位于电容单体的顶部设置有树脂层，其特征在于：所述壳体内设置有定位件，所述壳体的内壁两侧开设有竖直并贯穿其顶部的凹槽，所述定位件...
    2025-09-07
  • 一种服务器板卡的热插拔上电检测系统及方法
    一种服务器板卡的热插拔上电检测系统及方法_苏州浪潮智能科技有限公司_202211620721.3
    本发明提供一种服务器板卡的热插拔上电检测系统及方法，属于服务器板卡热插拔技术领域，所述系统包括包括服务器主板和功能板卡；服务器主板上设有主控制单元、热插拔上电第一检测单元以及第一连接器；功能板卡上设有逻辑器件单元、热插拔上电第二检测单元以及...
    2025-09-07
  • 工业场景下智能电表的开盖报警方法及系统
    工业场景下智能电表的开盖报警方法及系统_深圳市江机实业有限公司_202510756484.0
    本发明公开了工业场景下智能电表的开盖报警方法及系统。智能电表包括表本体和表盖，表盖上设有透光窗口，智能电表内设有绕透光窗口的外周分布的多个光敏传感器。该方法包括：智能电表安装后，先获取多个光敏传感器的光强数据并作为环境光影响数据；通过环境光...
    2025-09-07
  • 缺陷有序化六方孔结构抗氧化性MXene材料的制备方法及其应用
    缺陷有序化六方孔结构抗氧化性MXene材料的制备方法及其应用_辽宁工业大学_202411127638.1
    一种缺陷有序化六方孔结构抗氧化性MXene材料的制备方法及其应用，将六方孔洞的MAX相Ti3AlC2与CuCl2和NaCl混合，装入氧化铝刚玉方，并覆盖NaCl盐床舟，放入马...
    2025-09-07
  • 一种有序介孔碳材料的制备方法及应用
    一种有序介孔碳材料的制备方法及应用_西北大学_202411706708.9
    本发明公开了一种制备有序介孔碳的方法及应用，其制备方法是将废弃含氯树脂、塑料或橡胶分散在有机溶剂中，加入酸或碱催化剂。将其转移至密闭容器中，在溶剂热条件下进行脱氯处理。将洗涤干燥后的固体物质与造孔剂研磨均匀，并将其转移到管式炉中。惰性气氛保...
    2025-09-07
  • 一种测试负载的生成方法、装置、存储介质及电子设备
    一种测试负载的生成方法、装置、存储介质及电子设备_华东师范大学_202510624457.8
    本说明书实施例公开了一种测试负载的生成方法，该方法由于将测试数据的所有属性和查询语句的所有操作符都作为了有限状态机的状态，因此，随机生成的状态跳转路径对应的查询语句模板理论上可遍历所有的查询类型，而且，根据所需的查询基数和生成函数对目标查询...
    2025-09-07
  • 具有多空间自由度结构交替组织特征的异质结构调控方法
    具有多空间自由度结构交替组织特征的异质结构调控方法_西北工业大学_202510622665.4
    本发明公开了一种具有多空间自由度结构交替组织特征的异质结构调控方法，包括：步骤一、开展层间塑性变形辅助增材制造，对层间塑性影响层深度Hd、新层沉积时使上一层发生重熔的深度Hr、再结晶影响深度Hrecry和变形后的平均层厚Ha进行测量；步骤二...
    2025-09-07
  • 一种基于环境温度的显卡散热模组控制方法及系统
    一种基于环境温度的显卡散热模组控制方法及系统_东莞市建拓五金电子有限公司_202510675899.5
    本发明提供了一种基于环境温度的显卡散热模组控制方法及系统，涉及显卡散热技术领域，方法包括：实时获取显卡的性能特征和外部环境温度；通过Lasso回归模型，对性能特征进行重要特征选择；根据重要特征和外部环境温度，结合高斯过程回归算法，对显卡散热...
    2025-09-07
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