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信息存储应用技术
  • 一种金属探测器的伸缩折叠一体结构
    一种金属探测器的伸缩折叠一体结构_上海天巡电子设备有限公司_202422629850.X
    本实用新型公开了一种金属探测器的伸缩折叠一体结构，包括连接件，连接件上转动连接有第一连接杆和第一套管，第一套管内滑动套设有第二连接杆，第二连接杆远离第一套管的一端铰接有探测头，第一连接杆上滑动套设有第二套管，第二套管上固定套设有握把，握把远...
    2025-08-22
  • 橡胶输送带精准测量辅助设备
    橡胶输送带精准测量辅助设备_浙江台升智能输送科技有限公司_202510670093.7
    本发明公开了橡胶输送带精准测量辅助设备，属于测量技术领域。包括固定架，固定架上安装有多轴机械手和与水平面平行的测量台，多轴机械手的输出端安装有用于输送带测量的视觉相机，两组调节组件，包括可转动的支撑柱，用于将输送带调整至与测量台垂直，处理器...
    2025-08-22
  • 一种芯片调试方法
    一种芯片调试方法_富满微电子集团股份有限公司_202510569909.7
    本发明实施例公开了一种芯片调试方法，包括：芯片上电后，在检测到DP引脚的电压符合第一预设条件时，芯片进入调试模式，DP引脚与多组寄存器建立联系；寄存器通过DP引脚写入具有预设顺序的待烧录信号，待烧录信号中的烧录信息与寄存器组数关联；在寄存器...
    2025-08-22
  • 测试固件的动态加载方法、烧写方法及其系统
    测试固件的动态加载方法、烧写方法及其系统_展讯通信(上海)有限公司_202510571405.9
    本公开提供了一种测试固件的动态加载方法、烧写方法及其系统。所述动态加载方法应用于待测设备，所述动态加载方法包括：响应于所述待测设备存在加载指令，则对所述加载指令进行解析；所述加载指令由烧写设备写入所述待测设备；所述加载指令用于控制测试固件中...
    2025-08-22
  • 页缓冲器电路和包括页缓冲器电路的存储器装置
    页缓冲器电路和包括页缓冲器电路的存储器装置_三星电子株式会社_202510149102.8
    公开了页缓冲器电路和包括页缓冲器电路的存储器装置。所述存储器装置包括包含存储器单元的存储器单元阵列和页缓冲器电路，页缓冲器电路包括通过多条位线分别连接到存储器单元的页缓冲器单元和分别与页缓冲器单元对应的高速缓存锁存器，每个页缓冲器单元包括主...
    2025-08-22
  • 转置电路、转置方法及相关装置
    转置电路、转置方法及相关装置_深圳比特微电子科技有限公司_202510346811.5
    本公开涉及转置电路、转置方法及相关装置。一种转置电路，包括：输入模块，被配置为接收N行×M列的第一数据；存储模块，连接到输入模块并包括N行×M列的第一多个存储单元，存储模块被配置为将第一数据的每一列数据在第一循环的相应一个周期写入第一多个存...
    2025-08-22
  • 一种芯片测试装置和方法
    一种芯片测试装置和方法_北京贞光科技有限公司_202510845092.1
    本申请公开了一种芯片测试装置和方法，所述装置包括：接口插座模块、控制单元、按键模块、显示器；所述接口插座包括多种封装类型芯片夹具，每种芯片夹具包括夹具主体和多个引脚接口，所述夹具主体用于固定待测试芯片、所述多个引脚接口用于当待测试芯片固定于...
    2025-08-22
  • 盘装置
    盘装置_株式会社东芝_202411164815.3
    实施方式提供能够抑制尘埃从印刷线路板脱落以及排气从印刷线路板放出的盘装置。实施方式所涉及的盘装置具备壳体、磁盘、印刷线路板和膜。所述壳体设置有：填充有与空气不同的气体的内部空间、以及将该内部空间与外部连通的通孔。所述磁盘配置于所述内部空间。...
    2025-08-22
  • 一种双脉冲调制远距离分布式光纤温度传感系统
    一种双脉冲调制远距离分布式光纤温度传感系统_江苏东微感知技术有限公司_202510846990.9
    本发明涉及一种双脉冲调制远距离分布式光纤温度传感系统，包括激光器，激光器输出的激光通过分束器分别传输至光栅及一级激光调制器，一级激光调制器输出的激光通过第一激光放大器传输至环形器的一个端口，环形器的下一端口与感应光纤连接，环形器的再下一端口...
    2025-08-22
  • 基于双控系统的故障处理方法、双控系统及存储介质
    基于双控系统的故障处理方法、双控系统及存储介质_苏州元脑智能科技有限公司_202510897129.5
    本申请提供了一种基于双控系统的故障处理方法、双控系统、计算机可读存储介质，可以应用于计算机技术领域。双控系统包括分离的第一主板和第二主板，该故障处理方法应用于布设于第一主板的第一电路。该故障处理方法包括：响应于接收到控制信号发生变化，基于控...
    2025-08-22
  • 一种料斗清洗室用高稳定性无动力滑轨装置
    一种料斗清洗室用高稳定性无动力滑轨装置_浙江迦南科技股份有限公司_202510845351.0
    本发明属于清洗装置领域，尤其是一种料斗清洗室用高稳定性无动力滑轨装置，针对现有的装置在料斗送入过程中，出现支撑盘收回的情况，料斗的形状和大小不同，料斗的稳定性较低的问题，现提出如下方案，其包括滑轨导轨支架，设有两个沿X轴方向延伸的限位滑轨；...
    2025-08-22
  • 精细致动器反作用力消除柔性悬架
    精细致动器反作用力消除柔性悬架_西部数据技术公司_202411631923.7
    一种用于硬盘驱动器的磁头堆叠组件(HSA)包括滑架，多个臂从该滑架延伸，其中该臂包括在该滑架的每个端部处的外臂和在该外臂之间的内臂，使得每个内臂承载两个悬架组件并且每个外臂仅承载与该外臂的内侧联接的一个悬架组件，其中每个悬架组件包括对应的精...
    2025-08-22
  • 一种用于建筑工程的测量装置
    一种用于建筑工程的测量装置_江苏昊都建设工程有限公司_202422643621.3
    本申请涉及建筑工程测量领域，且公开了一种用于建筑工程的测量装置，包括用于建筑工程测量的测量架，测量架上设有两个相对设置的移动标尺以及驱动两个移动标尺在测量架上同时相互靠近或远离的驱动组件，两个移动标尺上均开设有供延长尺滑动的滑槽；本申请通过...
    2025-08-22
  • 一种大型选粉机剖分式转子的现场对准及检测工装
    一种大型选粉机剖分式转子的现场对准及检测工装_江苏羚羊机械有限公司_202423214723.X
    本实用新型提供了一种大型选粉机剖分式转子的现场对准及检测工装，它成本低、使用方便，可进行焊接变形控制、跳动检测。转子包括在周向相对接的转子左、转子中、转子右三个部分，具有多个法兰，所述工装包括夹具、螺杆、可旋转支座、对焦板、激光测距仪；夹具...
    2025-08-22
  • 一种显卡信息监控系统、服务器、监控方法以及存储介质
    一种显卡信息监控系统、服务器、监控方法以及存储介质_苏州元脑智能科技有限公司_202510629695.8
    本申请公开了一种显卡信息监控系统、服务器、监控方法以及存储介质。包括显卡和基板管理控制器；显卡包括命令寄存器、数据寄存器和处理器；基板管理控制器根据监控需求生成包含第一类操作码以及至少一种参数的请求指令，向命令寄存器发送请求指令及从命令寄存...
    2025-08-22
  • 存储模块的自检方法、装置、芯片、介质及产品
    存储模块的自检方法、装置、芯片、介质及产品_深圳曦华科技有限公司_202510483252.2
    本申请公开了一种存储模块的自检方法、装置、芯片、介质及产品，其中，该方法通过在对注错的存储模块执行自检程序时，若检测到注错的存储模块触发指令纠错错误，则从目标存储模块中获取预先建立的第一中断向量表，其中，目标存储模块未被注错；执行与第一中断...
    2025-08-22
  • 流数据实时计算跟踪方法、异常数据排查方法及其系统
    流数据实时计算跟踪方法、异常数据排查方法及其系统_前锦网络信息技术(上海)有限公司_202510451122.0
    本发明涉及一种流数据实时计算跟踪方法、异常数据排查方法及其系统，所述跟踪方法包括：在流数据的实时计算过程中获取任务跟踪配置表中的跟踪配置信息，所述跟踪配置信息至少包括需要跟踪的计算任务标识；解析跟踪配置信息以得到需要跟踪的计算任务标识；监视...
    2025-08-22
  • 引擎的性能测试方法、系统、设备及介质
    引擎的性能测试方法、系统、设备及介质_科大讯飞股份有限公司_202510538009.6
    本发明提供一种引擎的性能测试方法、系统、设备及介质，涉及测试技术领域，其中方法包括：根据测试需求信息，创建测试任务，测试任务的任务参数包括测试数据集、测评方案和待测试引擎列表；根据测试数据集中的各测试数据，分别对待测试引擎列表中的各待测试引...
    2025-08-22
  • 一种计算机运行状态监测方法及系统
    一种计算机运行状态监测方法及系统_枣庄研墨文化科技有限公司_202510527507.0
    本发明涉及计算机状态监测领域，公开了一种计算机运行状态监测方法及系统，本发明分别对计算在正常场景下和施加电磁干扰的场景下的运行状态进行监测分析，在正常场景下依次对计算机的运行异常和运行潜在异常进行监测分析，对计算机在正常场景下的运行状态进行...
    2025-08-22
  • 芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质
    芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质_沐曦集成电路(上海)股份有限公司_202510726153.2
    本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、构建目标测试用例重构结构{C0,（C1,B1）,(C2,B...
    2025-08-22
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