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最新专利技术
  • 芯片失效检测系统、方法、装置和太赫兹时域反射计
    芯片失效检测系统、方法、装置和太赫兹时域反射计_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))_202510867791.6
    本申请涉及一种芯片失效检测系统、方法、装置和太赫兹时域反射计。主控制器，用于向选通开关中的目标选通开关发送第一控制信号，以导通与目标选通开关对应的目标待测芯片，以及在目标待测芯片导通的情况下，向太赫兹时域反射计发送第二控制信号；太赫兹时域反...
    2026-02-10
  • 一种极限信号组合模块的测试装置及方法
    一种极限信号组合模块的测试装置及方法_国营芜湖机械厂_202510944437.9
    本发明公开了一种极限信号组合模块的测试装置及方法，涉及电路板测试技术领域，包括：电源模块、串口通讯模块、总线收发模块、DSP控制模块以及被测存储器板；所述电源模块，用于为所述被测存储器板提供工作电压；所述串口通讯模块，通过串行接口实现上位机...
    2026-02-10
  • 一种测试设备
    一种测试设备_珠海精实测控技术股份有限公司_202510965371.1
    本发明公开了一种测试设备，包括：机架；测试治具，设于机架，测试治具包括由上至下依次设置的压板模组、皮带输送机构以及针板模组；支撑架，设于机架，且位于测试治具的一侧；第一底板，活动设于支撑架；第一驱动件，设于第一底板；输送组件，连接第一驱动件...
    2026-02-10
  • 设备测量方法及装置
    设备测量方法及装置_矽电半导体设备(深圳)股份有限公司_202510980144.6
    本发明提出一种设备测量方法及装置，涉及半导体设备生产领域，本发明的设备测量方法，用于测量半导体测试设备，半导体测试设备包括机台、面板、载片台和探针，载片台和面板均连接于机台，载片台用于装载晶圆；探针连接于面板，且朝向载片台设置；载片台能够沿...
    2026-02-10
  • 一种基于反演算法的片上校准件寄生参数确定及溯源方法
    一种基于反演算法的片上校准件寄生参数确定及溯源方法_中国计量科学研究院_202511010428.9
    本发明公开了一种基于反演算法的片上校准件寄生参数确定及溯源方法，包括通过TRL校准确定八个误差项，所述TRL校准采用直通、反射和传输线三个校准标准件；根据信号流图得到TRL校准与SOLT校准中各个误差项的关系，根据12项误差修正模型算法，反...
    2026-02-10
  • 一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统
    一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统_广西机电职业技术学院_202511079063.5
    本发明提供一种ATE接口标准通用线及其连接的FT测试系统，涉及半导体集成电路测试领域。该基于ATE接口标准通用线，包括ATE PC端背板、测试头和DUT适配器，所述ATE PC端背板电性连接有第一接口和第二接口，所述第一接口连接有第一标准通...
    2026-02-10
  • 一种新型BMS测试方法
    一种新型BMS测试方法_宁波竣为科技有限公司_202511135189.X
    本发明公开了一种新型BMS测试方法，包括包括：预设置200组数据包，每组数据包包含200个16位数据，所述数据包括：保护板串数DEC值；静态电流最大值DEC值；测试动作选择HEX值，其中Bit0～6依次为校准0，静态1，过充保护2，过放保护...
    2026-02-10
  • 一种用于燃气数据采集终端的测试装置
    一种用于燃气数据采集终端的测试装置_南京益美沃电子科技有限公司_202511209225.2
    本发明涉及检测设备技术领域，特别是一种用于燃气数据采集终端的测试装置，其包括承载组件，容纳盒、设于所述容纳盒端面的支架、设于所述支架外壁的显示屏和信号发生器；夹持组件，设于容纳盒端面的放置盘、设于支架外壁的安装盘、设于安装盘外壁的把手、设于...
    2026-02-10
  • 一种高边驱动电路故障诊断方法及系统
    一种高边驱动电路故障诊断方法及系统_武汉天运汽车电器有限公司_202511430137.5
    本发明涉及电路故障诊断技术领域，尤其涉及一种高边驱动电路故障诊断方法及系统，该方法包括：首先使用无监督异常检测算法处理采集到的功率数据，得到初始异常分数；通过计算反映当前功率偏离其历史平均水平的功率波动因子，并结合未来时间窗口内的功率波动累...
    2026-02-10
  • 基于芯片老化分析的微观结构变化追踪方法
    基于芯片老化分析的微观结构变化追踪方法_苏州中瑞宏芯半导体有限公司_202511432168.4
    本发明涉及数据分析技术领域，是基于芯片老化分析的微观结构变化追踪方法，具体包括：获取芯片出厂结构数据导入芯片变化预测模型，得到初始聚集稳定指数，进行芯片老化情况评估，若评估结果为待翻新等级，则进入芯片检修翻新流程；若评估结果为待回收等级，则...
    2026-02-10
  • 动态适应性多参数修调优化方法及系统
    动态适应性多参数修调优化方法及系统_安庆师范大学_202511438749.9
    本发明提供动态适应性多参数修调优化方法及系统，方法包括：通过相关性分析，得到高相关性参数组合；进行联合修调，得到联合修调参数组；根据联合修调参数组，设定搜索的初始顶点，进行初始修调码组合；对初始修调码组合，进行工艺偏差函数计算，求取顶点工艺...
    2026-02-10
  • 一种用于电子元器件回收检测的机器人
    一种用于电子元器件回收检测的机器人_江苏泰亚再生资源有限公司_202511453082.X
    本发明涉及工业机器人技术领域，且公开了一种用于电子元器件回收检测的机器人，本发明包括机架、移动臂、压定结构、检测部件，本发明通过机架两侧送料部件将电路板送至压定结构，液压杆驱动压动组件固定电路板，同时联动储药组件向检测点滴加药剂，移动臂带动...
    2026-02-10
  • 一种电路板状态监测方法
    一种电路板状态监测方法_温州市聚溢电子科技股份有限公司_202511455409.7
    本发明公开了一种电路板状态监测方法，本发明涉及电路板技术领域，解决了传统波形分析多依赖人工判断峰值差异，难以量化波形畸变与延时的关联关系，且易受外部噪声干扰，导致异常类型定位模糊的问题，本发明通过高速信号测试聚焦波形的上升沿与下降沿特征，创...
    2026-02-10
  • 基于AI大模型训练的芯片测试系统、装置及方法
    基于AI大模型训练的芯片测试系统、装置及方法_眸芯科技(上海)有限公司_202511004504.5
    本发明公开了基于AI大模型训练的芯片测试系统、装置及方法，涉及芯片测试技术领域。所述系统包括AI大模型端、上位机端和待测芯片端，上位机端和待测芯片端通过标准化的固定连接端子进行硬件连接以通信交互；AI大模型端用于激励训练和生成测试激励文件；...
    2026-02-10
  • 一种开关设备行程测量方法、系统、电子设备及存储介质
    一种开关设备行程测量方法、系统、电子设备及存储介质_中国南方电网有限责任公司_202510959590.9
    本申请公开了一种开关设备行程测量方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：通过感应单元对开关设备进行信号采集处理得到动态感测信号，对动态感测信号进行多维度预处理得到预处理信号，根据信号处理算法对预处理信号进行行程计算处理得到初始开关行程测量...
    2026-02-10
  • 一种基于多源数据融合的SF6密度继电器绝缘状态诊断方法及系统
    一种基于多源数据融合的SF6密度继电器绝缘状态诊断方法及系统_融智通科技(北京)股份有限公司_202511018273.3
    本发明涉及电力设备智能监测技术领域，公开一种基于多源数据融合的密度继电器绝缘状态诊断方法及系统，诊断方法包括：基于原始ROI图像获取无失真ROI图像、测量压力值、测量密度值和有效指针根部点坐标值，基于测量压力值和环境温度获得计算密度值，基于...
    2026-02-10
  • 一种接近开关性能测试系统
    一种接近开关性能测试系统_华能澜沧江水电股份有限公司_202511020035.6
    本公开提出一种接近开关性能测试系统，包括：底座，接近开关设置在底座上；测试齿盘，测试齿盘转动设置在底座上，且接近开关的检测端沿测试齿盘的径向和测试齿盘相对设置；驱动机构，驱动机构设置在底座上，且驱动机构的动力输出端和测试齿盘的动力输入端相连...
    2026-02-10
  • 一种继电器检测装置
    一种继电器检测装置_华能国际电力股份有限公司上海石洞口第二电厂_202511117469.8
    本发明涉及继电器技术领域，具体涉及一种继电器检测装置，包括：壳体、安装组件、防护组件和检测组件；防护组件包括第一防护部、第二防护部和驱动部，驱动部与第一防护部和第二防护部连接，第一防护部设置于安装组件的下方，第二防护部设置于所述安装组件上方...
    2026-02-10
  • 一种漏电开关智能检测方法及系统
    一种漏电开关智能检测方法及系统_国网山东省电力公司枣庄供电公司_202511119968.0
    本发明涉及漏电开关检测技术领域，具体为一种漏电开关智能检测方法及系统，该方法包括：断开负载和电源，检测漏电开关的合闸能力，若漏电开关不能合闸则判定为漏电开关机械故障；若漏电开关能合闸，对漏电开关所在电路通电，则按下测试按钮验证其电子部件功能...
    2026-02-10
  • 一种柔直换流阀子模块旁路开关的可靠性试验方法及装置
    一种柔直换流阀子模块旁路开关的可靠性试验方法及装置_国网经济技术研究院有限公司_202511207123.7
    本发明公开了一种柔直换流阀子模块旁路开关的可靠性试验方法及装置，涉及柔直输电技术领域，所述方法包括：基于柔直换流阀子模块在过压故障点的工况构建旁路开关的试验回路，试验回路包括：第一预充电回路及其隔离开关、第一电容及其放电电阻、IGBT、二极...
    2026-02-10
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