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最新专利技术
  • 一种半导体器件高温漏电检测装置及方法
    一种半导体器件高温漏电检测装置及方法_华羿微电子股份有限公司_202511215924.8
    本申请公开一种半导体器件高温漏电检测装置及方法，涉及半导体器件检测技术领域，能够实现高温环境下半导体功率器件的漏电检测，进而能够提高功率器件的稳定性。装置包括：一个稳压电源和测试电路，稳压电源用于为测试电路供电，测试电路置于高温烘箱中；测试...
    2026-02-13
  • 一种动态栅极电压可靠性评估方法及装置
    一种动态栅极电压可靠性评估方法及装置_深圳市金凯博自动化测试有限公司_202511259159.X
    本发明涉及动态栅极电压可靠性评估技术领域，具体公开一种动态栅极电压可靠性评估方法及装置，包括：测试配置指令生成、器件安装与初始测试、电压扫描监测、异常检测与故障响应、自动弹射隔离、电路重组与切换、测试数据集生成和评估终止与报告生成；本发明通...
    2026-02-13
  • 一种测试电路板及其控制方法
    一种测试电路板及其控制方法_南京南瑞继保电气有限公司_202511307004.9
    本申请公开了一种测试电路板及其控制方法，属于功率半导体器件测试技术领域，包括：信号接收模块，信号接收模块的输出端连接于开关模块；电源模块，电源模块的供电端连接于开关模块；接口模块，开关模块的输出端与接口模块连接；其中，电源模块包括第一电源子...
    2026-02-13
  • 一种碳化硅芯片的性能评估方法及评估系统
    一种碳化硅芯片的性能评估方法及评估系统_广东仁懋电子有限公司_202511406645.X
    本申请提供一种碳化硅芯片的性能评估方法及评估系统，涉及半导体测试领域，从动态响应数据中分离出非线性扰动分量；基于非线性扰动分量构建链路传输补偿函数，通过链路传输补偿函数和动态响应数据确定动态特性参数；对动态特性参数进行多维频谱解析，得到高频...
    2026-02-13
  • 进位链校准方法、装置、时间测量单元和设备
    进位链校准方法、装置、时间测量单元和设备_杭州长川科技股份有限公司_202511446150.X
    本申请涉及一种进位链校准方法、装置、时间测量单元和设备。所述方法包括：获取进位链的比特输出序列；对所述比特输出序列进行分段得到若干待处理分段；从各所述待处理分段中筛选目标分段，并统计所述目标分段中各比特进位输出为1的次数；基于各所述目标分段...
    2026-02-13
  • 一种主板的测试系统
    一种主板的测试系统_广州视源电子科技股份有限公司_202410583924.2
    本发明提供一种主板的测试系统，该测试系统包括：外部设备、PC主板、背光供电电路和交流转直流电路，外部设备包括存储板或控制设备。PC主板分别电连接外部设备、背光供电电路的控制端和交流转直流电路的控制端，交流转直流电路的输入端用于电连接交流电源...
    2026-02-13
  • 一种GEO星地双基地SAR成像处理方法
    一种GEO星地双基地SAR成像处理方法_北京理工大学_202510758672.7
    本发明属于合成孔径雷达技术领域，尤其涉及一种GEO星地双基地SAR成像处理方法。具体过程为：步骤1，获取GEO星地双基地SAR系统的相关参数，估计直达波参数信息；步骤2，利用所述参数信息判断GEO SAR的开机时间，获取回波通道的雷达数据，...
    2026-02-13
  • 一种电路板漏锡检测方法、装置、设备及存储介质
    一种电路板漏锡检测方法、装置、设备及存储介质_联宝(合肥)电子科技有限公司_202510933396.3
    本公开提供了一种电路板漏锡检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：基于电气属性参数将电路板上的待检测孔分类为至少两类检测对象；以所述待检测孔的几何边界为基准扩展预设距离形成检测区域，并筛选所述检测区域内的目标检测元素；基于所述待检测孔...
    2026-02-13
  • 半导体芯片缺陷检测定位方法及系统
    半导体芯片缺陷检测定位方法及系统_星云量科(北京)科技发展有限公司_202511024090.2
    本发明提供半导体芯片缺陷检测定位方法及系统，涉及半导体芯片检测技术领域，包括获取原始图像及电学测试数据；基于局部密度分析形成缺陷候选区域；对电学数据执行变分模态分解并标记电特性异常点；将图像特征映射至电特性空间并计算互信息值确定缺陷点；计算...
    2026-02-13
  • 一种适用于硅基毫米波裸片的通用化测试装置及方法
    一种适用于硅基毫米波裸片的通用化测试装置及方法_中国电子科技集团公司第十研究所_202511041375.7
    本发明提供了一种适用于硅基毫米波裸片的通用化测试装置，包括PCB测试子板与PCB测试母板，其中，PCB测试子板上表面贴装硅基毫米波裸芯片，下表面设置有多个弹簧针接触点；PCB测试母板包括芯片测试所需的所有元器件，同时上表面焊接有多个弹簧针，...
    2026-02-13
  • 一种基于ATE平台的芯片测试方法
    一种基于ATE平台的芯片测试方法_广西机电职业技术学院_202511079064.X
    本发明提供一种基于ATE平台的芯片测试方法，涉及芯片制造与测试技术领域。该方法创新性地整合多种先进测试技术和智能算法，通过智能环境调控系统精准控制测试环境参数，协同测试引擎高效处理射频及数字信号，测试执行流利用芯片内置Loopback功能与...
    2026-02-13
  • 一种芯片测试插座及其测试方法
    一种芯片测试插座及其测试方法_苏州法特迪科技股份有限公司_202511091621.X
    本申请公开了一种芯片测试插座及其测试方法，涉及芯片老化测试技术领域，其包括可开合式控温压盖和承载底座，控温压盖包括冷却座以及多个间隔设置的温度传感器，承载底座上放置有待测芯片，冷却座与待测芯片上端面相抵，温度传感器穿过冷却座后与待测芯片上端...
    2026-02-13
  • 一种可避免误判的基于分压器的TSV键合后检测架构
    一种可避免误判的基于分压器的TSV键合后检测架构_西安电子科技大学_202511098714.5
    本发明涉及一种可避免误判的基于分压器的TSV键合后检测架构，包括：检测电路信号控制器、若干TSV检测电路群、若干检测电路输出结果比较器群和若干检测结果输出结构。本发明的检测架构在TSV检测电路群中采用多个晶体管与待检测TSV形成分压结构，通...
    2026-02-13
  • 一种基于单片机的智能化老炼测试系统与方法
    一种基于单片机的智能化老炼测试系统与方法_珠海航宇微科技股份有限公司_202511147431.5
    本发明涉及一种智能化芯片老炼测试系统及方法。本发明系统通过集成电源管理、多通道信号采集、冗余控制及远程通信，实现对多片老炼芯片的高精度动态监测与智能化管理。系统核心包括：电源供电模块、信号采集模块、核心处理单元及若干个外围设备接口；本发明方...
    2026-02-13
  • 一种电子信息工程用硬件检测装置
    一种电子信息工程用硬件检测装置_中邮通建设咨询有限公司_202511252586.5
    本发明涉及电子硬件检测技术领域，本发明公开了一种电子信息工程用硬件检测装置，包括箱体、传输机构和定位机构，还包括固定安装在箱体顶壁的检测机构，以及固定安装在传输机构一侧的间歇下料机构，传输机构分别与间歇下料机构、定位机构传动连接；本发明的技...
    2026-02-13
  • 芯片测试装置、方法和系统
    芯片测试装置、方法和系统_芯弦半导体(苏州)有限公司_202511383231.X
    本发明公开了一种芯片测试装置、方法和系统，芯片测试装置包括：标准测试单元，用于提供与标准芯片对应的标准功能响应；待测单元，包括第一可编程逻辑器件，其配置为用于载入待测芯片的硬件描述逻辑；连接单元，包括第二可编程逻辑器件，其管脚分别与标准测试...
    2026-02-13
  • 一种电子主板自动化检测设备
    一种电子主板自动化检测设备_深圳市联创鑫自动化有限公司_202511385018.2
    本发明涉及电子主板检测技术领域，特别是涉及一种电子主板自动化检测设备，包括底板，底板的上侧设置有下检测机构、上检测机构和配合检测机构。本发明设置上检测机构和配合检测机构，即可实现了电子主板检测的高度自动化与柔性化，大幅提升了检测效率，降低了...
    2026-02-13
  • 功率驱动芯片的自动测试系统
    功率驱动芯片的自动测试系统_江阴矽捷电子有限公司_202511446219.9
    本发明公开了功率驱动芯片的自动测试系统，具体涉及自动化测试技术领域，包括动态测试控制模块、多层级并行测试模块、异常功率检测模块和安全验证诊断模块。本发明基于可编程电子负载与数字信号处理器协同工作，验证芯片在不同工况下的动态响应能力，并生成极...
    2026-02-13
  • 测试设备
    测试设备_浙江正泰电器股份有限公司_202511448354.7
    本申请涉及一种测试设备。该测试设备包括安装架、针床、第一测试机构、第二测试机构和切换机构。针床设于安装架。针床用于放置待测试件。第一测试机构固接于针床内，第一测试机构被配置为与待测试件电连接，用于对待测试件进行功能测试。第二测试机构可升降地...
    2026-02-13
  • 一种芯片调试系统与方法
    一种芯片调试系统与方法_此芯科技集团有限公司_202511461910.4
    本发明提出一种芯片调试系统与方法，平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功；上位机在待测芯片启动成功后，向平台调试控...
    2026-02-13
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