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最新专利技术
  • 低代码流程异常检测方法、装置、设备及可读存储介质
    低代码流程异常检测方法、装置、设备及可读存储介质_三峡高科信息技术有限责任公司_202511343516.0
    一种低代码流程异常检测方法、装置、设备及可读存储介质， 涉及业务流程异常检测技术领域， 包括对与待检测流程实例对应的目标日志数据进行预处理， 得到目标时间序列特征；对与待检测流程实例对应的目标流程定义数据进行预处理， 得到目标流程拓扑特征；...
    2025-12-03
  • 硬盘故障诊断方法、电子设备
    硬盘故障诊断方法、电子设备_苏州元脑智能科技有限公司_202511347837.8
    本申请公开了一种硬盘故障诊断方法、电子设备， 涉及计算机领域， 包括：按照预设周期采集硬盘的日志信息， 并在硬盘知识库中匹配所述日志信息的相似日志文档， 其中， 所述硬盘知识库用于存储所述硬盘的历史运行数据；根据所述日志信息和所述相似日志文...
    2025-12-03
  • 一种基于CRC校验码的闪存校验方法、装置及设备
    一种基于CRC校验码的闪存校验方法、装置及设备_中国科学院微电子研究所_202410480523.4
    本发明公开一种基于CRC校验码的闪存校验方法、装置及设备， 涉及数据处理技术领域， 用于解决现有技术中闪存校验效率低的问题。包括：接收校验指令；基于校验指令， 从闪存的CRC运算内存范围内多轮读取待校验数据；所述闪存为位宽高于预设值的闪存；...
    2025-12-03
  • 奇偶校验数据恢复方法、电子设备及存储介质
    奇偶校验数据恢复方法、电子设备及存储介质_上海江波龙数字技术有限公司_202410494825.7
    本申请涉及存储设备领域， 提供一种奇偶校验数据恢复方法、电子设备及存储介质。该方法包括：若检测到存储设备进入安全关机模式或者低功耗模式， 将磁盘冗余阵列引擎生成的第一奇偶校验数据写入至奇偶校验缓冲块；若检测到存储设备退出安全关机模式或者低功...
    2025-12-03
  • 具有用于错误检查及擦除报告的交错操作的存储器装置
    具有用于错误检查及擦除报告的交错操作的存储器装置_美光科技公司_202510371304.7
    本公开涉及具有用于错误检查及擦除报告的交错操作的存储器装置。一些实施例包含设备及操作所述设备的方法。所述设备中的一者包含总线、耦合到所述总线的第一存储器装置及耦合到所述总线的第二存储器装置。所述第一存储器装置包含用以执行第一错误检查及擦除E...
    2025-12-03
  • 双BIOS映像处理机制的方法
    双BIOS映像处理机制的方法_佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司_202410452216.5
    本发明涉及计算机技术领域， 其提供一种双BIOS映像处理机制的方法， 在一开机自我检测阶段进行， 由一基板管理控制器执行， 包含以下步骤：(A)在接收到一开机讯号后， 载入一预设BIOS映像及一黄金BIOS映像的其中一者， 并同时启动一检测...
    2025-12-03
  • 数据恢复方法、设备、程序产品及存储介质
    数据恢复方法、设备、程序产品及存储介质_云智能资产控股(新加坡)私人股份有限公司_202410501655.0
    本公开提供一种基于用户态文件系统FUSE的数据恢复方法、设备、程序产品及存储介质， 所述方法包括：响应于接收到对原数据库实例中原数据表恢复至历史时刻的恢复请求， 通过与所述原数据库实例对应的临时数据库实例恢复出所述原数据表在历史时刻的临时数...
    2025-12-03
  • 一种协同式数字监控备份方法及系统
    一种协同式数字监控备份方法及系统_正大康地农牧集团有限公司_202511286699.7
    本发明涉及数据可视化与集成技术领域， 具体为一种协同式数字监控备份方法及系统， 包括以下步骤， 统计通道故障生成任务编号集， 匹配健康节点生成迁移对照， 提取编号差注入调度队列， 比对任务变量完成处理同步， 生成协同备份记录。本发明中， 通...
    2025-12-03
  • 一种器件监控方法及电子设备
    一种器件监控方法及电子设备_苏州元脑智能科技有限公司_202511343020.3
    本申请公开了一种器件监控方法及电子设备， 涉及器件监控技术领域， 包括：响应于互连管理装置上电， 逻辑控制器获取与互连控制器的复位过程相关的多个状态检测信号；逻辑控制器基于多个状态检测信号生成固件加载标志信号， 以供管理控制器读取；响应于管...
    2025-12-03
  • 地址总线的故障检测方法及装置
    地址总线的故障检测方法及装置_华为技术有限公司_202410465244.0
    本申请提供了一种地址总线的故障检测方法及装置， 属于电子技术领域。本申请提供的方案能够对功能电路中第一寄存器的第一地址的比特位进行取反得到第二地址， 并根据第一数据与第二数据相同， 确定该比特位对应的地址总线中的第一信号线故障。其中， 第一...
    2025-12-03
  • 扩展卡的测试方法、电子设备及测试系统
    扩展卡的测试方法、电子设备及测试系统_深圳富联富桂精密工业有限公司_202410465520.3
    本申请提供一种扩展卡的测试方法、电子设备及测试系统， 测试方法包括：根据扩展卡可接收的控制器的指令内容， 以及指令内容对应的预期数据内容配置配置文件；根据配置文件生成测试指令；发送测试指令至扩展卡；接收扩展卡的固件响应于测试指令， 返回的返...
    2025-12-03
  • 存储介质的检测方法、装置、计算机可读存储介质
    存储介质的检测方法、装置、计算机可读存储介质_深圳市江波龙电子股份有限公司_202410490373.5
    本申请公开了一种存储介质的检测方法、装置、计算机可读存储介质， 其中， 存储介质的检测方法包括：获取通过拍摄设备采集测试文件时的第一特征参数， 以及对所述测试文件进行编码并存储到所述存储介质时所述的第二特征参数；对所述第一特征参数和所述第二...
    2025-12-03
  • 触摸屏测试装置及其测试方法
    触摸屏测试装置及其测试方法_广州视源电子科技股份有限公司_202410492718.0
    本申请实施例公开了一种触摸屏测试装置及其测试方法， 测试装置包括导轨、触摸笔、活动组件及测试组件， 导轨能够搁放于围设触摸屏的边框；触摸笔具有笔头及笔尾， 活动组件可移动地安装于导轨， 触摸笔安装于活动组件， 测试组件可拆卸地安装于活动组件...
    2025-12-03
  • 芯片验证系统、验证方法、设备及介质
    芯片验证系统、验证方法、设备及介质_极芯(上海)电子科技有限公司_202410495421.X
    本申请提供一种芯片验证系统、验证方法、设备及介质， 该系统包括验证设备和待测芯片， 验证设备包括测试组件、验证模型以及验证文件；测试组件用于：根据待测模块的标识， 获得参考测试用例和待输入图片；根据待测模块的依赖关系， 确定与待测模块存在依...
    2025-12-03
  • 基于规则引擎的掩码批量板测方法、装置、介质及设备
    基于规则引擎的掩码批量板测方法、装置、介质及设备_西安万像电子科技有限公司_202510751568.5
    本申请是关于一种基于规则引擎的掩码批量板测方法、装置、介质及设备。该方法包括：定义测试项的位掩码格式；通过JSON配置文件和位掩码格式定义测试项的掩码测试规则；将掩码测试规则预先设置到上位机中的测试脚本；当单板与上位机连接后， 单板接收上位...
    2025-12-03
  • 一种SD卡的故障检测方法及装置
    一种SD卡的故障检测方法及装置_厦门紫光展锐科技有限公司_202511312726.3
    本申请实施例提供了一种SD卡的故障检测方法及装置， 所述方法包括：获取目标SD卡的多种类型的运行信息；根据预设设定的每种类型的运行信息中， 不同运行信息范围对应的指数， 和所述多种类型的运行信息， 确定所述多种类型的运行信息分别对应的指数；...
    2025-12-03
  • 磁盘故障预测方法及设备
    磁盘故障预测方法及设备_苏州元脑智能科技有限公司_202511323719.3
    本申请公开了一种磁盘故障预测方法及设备， 涉及数据处理技术领域， 包括通过获取目标磁盘的目标特征数据， 通过预设磁盘故障预测模型根据目标磁盘的目标特征数据对目标磁盘在未来目标时间段内出现故障的概率进行预测， 输出目标预测概率， 实现对目标磁...
    2025-12-03
  • 一种面向大算力GPU芯片的并行测试任务调度方法
    一种面向大算力GPU芯片的并行测试任务调度方法_江苏海纳电子科技有限公司_202511331559.7
    本发明涉及GPU芯片测试领域， 具体为一种面向大算力GPU芯片的并行测试任务调度方法。具体实现过程包括：构建测试任务‑资源需求矩阵， 计算测试任务产生的瞬态热应力并校验测试安全裕度；根据测试安全裕度将多个测试任务聚合为并行测试执行簇， 为并...
    2025-12-03
  • 芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品
    芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品_摩尔线程智能科技(北京)股份有限公司_202511332913.8
    本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质及程序产品。该方法包括：基于第一芯片的标准测试描述文件得到结构化描述数据， 标准测试描述文件用于描述第一芯片的测试需求；将结构化描述数据注入环境模版得到验证环境， 验证环境是用于承载芯片测试...
    2025-12-03
  • 一种逻辑内建自测试方法及电路
    一种逻辑内建自测试方法及电路_成都市易冲半导体有限公司_202511341850.2
    本发明涉及集成电路测试领域， 提供一种逻辑内建自测试方法及电路， 所述方法包括：使能线性反馈移位寄存器， 生成测试向量；将生成的测试向量分别输入到待测电路和参考电路中；比较待测电路和参考电路的输出向量是否一致， 得到该待测电路的自检结果。本...
    2025-12-03
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