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测试数据处理方法、装置、电子设备及存储介质
本申请提供一种测试数据处理方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取标准测试数据格式STDF测试数据,STDF测试数据至少包括多个芯片在晶圆上的坐标以及各芯片在多个测试项的测试值;根据STDF测试数据以及预设的测试项权重信息,生成晶圆...
一种INPC型逆变器桥臂短路检测方法及装置
本申请公开了一种INPC型逆变器桥臂短路检测方法及装置,涉及逆变器安全检测技术领域,解决了现有技术中没有INPC型逆变器桥臂短路检测,且T型逆变器桥臂IGBT晶体管的短路检测方法需要增设额外电阻和继电器所导致的电路结果复杂和成本高的问题,该...
IGBT模块一致性分类方法、装置及电子设备
本申请涉及IGBT模块性能检测技术领域,提供一种IGBT模块一致性分类方法、装置及电子设备,其中,该方法包括获取待测IGBT模块的身份标识信息,获取IGBT模块的测试设定参数信息,生成向IGBT模块施加的控制驱动信号;采集IGBT模块集电极...
一种小功率器件热阻测试恒温台
本发明涉及热阻测试技术领域,具体公开了一种小功率器件热阻测试恒温台。包括工作台、恒温件、旋转架和压具,工作台上设有支撑面,恒温件设于支撑面下方,旋转架能相对于支撑面转动,且压具设于旋转架上并能相对旋转架沿横向滑动。本发明中的小功率器件热阻测...
场效应晶体管沟道迁移率的确定方法、装置和计算机设备
本申请涉及一种场效应晶体管沟道迁移率的确定方法、装置和计算机设备。所述方法包括:获取目标场效应晶体管的转移特性曲线;根据所述目标场效应晶体管的转移特性曲线,确定目标场效应晶体管的栅极电压对应的目标有效电场强度区间;根据体迁移率模型,确定目标...
一种IGBT器件损耗评估方法、装置、介质及电子设备
本发明涉及芯片领域,提出一种IGBT器件损耗评估方法、装置、介质及电子设备,根据IGBT管在电流周期内各个导通段的导通电流平均值,获取IGBT管的导通损耗,根据IGBT管在电流周期内每次开关电流和杂散电感偏差值,获取IGBT管的开关损耗,根...
一种高安全性纳秒量级延时的晶体管测试系统及方法
一种高安全性纳秒量级延时的晶体管测试系统及方法,属于晶体管测试领域,能在保证测试系统及实验人员安全的基础上,基于纳秒量级测量延时测试待测晶体管在任意漏极电压应力值、漏极电压应力时长、负载电流时晶体管特性。电路包括:开关S1, S2, S3,...
一种基于电子离子束测试LED电学性能的测试设备
本申请公开了一种基于电子离子束测试LED电学性能的测试设备,包括:数据传输系统、真空系统、计算机控制系统、数据收集和处理系统、电源系统、自动装片系统、高精度平台系统、电子或离子光学柱系统以及辅助光电测试系统;所述计算机控制系统分别与数据传输...
电机控制系统检测方法、装置、设备、介质及程序产品
本申请公开了一种电机控制系统检测方法、装置、设备、介质及程序产品,涉及电气控制技术领域,公开的电机控制系统检测方法,包括:判断电控装置是否满足被动放电条件;在判定电控装置满足被动放电条件的情况下,对母线电容的电容电压进行采样,获得至少两个电...
基于串行多测试任务场景下的电压补充电路及其补充方法
本发明提供了一种基于串行多测试任务场景下的电压补充电路及其补充方法,其中,电路包括:逻辑控制模块、分压电路模块、标准源模块、双控开关模块;所述逻辑控制模块包括校准电压检查端口、内环电流检查端口以及输出端口。本发明的有益效果:通过动态压降补偿...
PCBA板检测工装
本申请涉及电路板测试技术领域,并公开了一种PCBA板检测工装,包括:测试模块,包括固定安装于测试机下移机构的天板和上护板;双工位测试模块,包括可切换的两个测试工位,每个工位包含测试底座、探针板和下护板;移位驱动模块,用于控制两个测试工位在测...
一种功率芯片的封装检测方法及装置
本发明提供了一种功率芯片的封装检测方法及装置,所述方法包括:获取目标功率芯片在封装完成后的结构图像、红外热成像帧序列以及工作电参数据集后进行分层和区域峰值分析,以构建形貌特征参数集合和热异常特征集合;将形貌特征参数集合、热异常特征集合及工作...
一种面向印制电路组装板的测试连接装置
一种面向印制电路组装板的测试连接装置,包括探针座模块、保护盖模块、螺栓模块以及弹簧。探针座模块含探针座、探针、测试接口板及紧固衬套等,其探针安装孔排列与待测PCB测试盘排列方式一致,测试接口板与探针一端接触;保护盖模块有接地支撑环、定位导套...
一种高密度芯片测试设备和电子设备
本申请公开一种高密度芯片测试设备和电子设备,涉及芯片测试领域。限位框、PCB板、支撑框架从上到下布设并固定连接。阻容物料与PCB板的焊盘电连接;限位框开设有多个凹槽,每个凹槽被配置为放置待测试芯片,且待测试芯片的管脚与PCB板的焊盘电连接;...
双电控制板的测试方法、计算机可读存储介质及程序产品
本申请实施例公开了一种双电控制板的测试方法、计算机可读存储介质及程序产品,属于设备测试领域。其中,方法包括获取为负载供电的目标电源的寿命衰减值和电量衰减值;根据寿命衰减值和电量衰减值确定目标电源的损耗程度;根据损耗程度和目标电源的预设供电时...
一种测试系统以及PCB板
本申请提供一种测试系统以及PCB板,属于质量测试的技术领域。所述系统包括线路选择模块,用于在第一检测链路和第二检测链路中选择当前检测链路,第一检测链路为用于检测目标信号链路中目标不上件零件以及目标信号对应的周围线路的连接状态的链路,第二检测...
批量自动化测试方法、装置及计算机设备
本发明提供了一种批量自动化测试方法、装置及计算机设备。本发明通过对原始文件进行格式处理,得到目标格式的目标二进制文件,再基于预设工具程序对目标二进制文件进行处理,从而得到老炼设备可识别的目标文件,最终将目标文件直接导入预设老炼设备,则可直接...
一种SoC芯片的晶圆测试方法及装置
本发明公开一种SoC芯片的晶圆测试方法及装置,属于电子设备领域。测试机根据用户输入的数据组装写操作的测试指令或读操作的测试指令并发送给SoC芯片,当SoC芯片接收到写操作的测试指令时将测试指令的数据域内容写入到寄存器中,进行测试并将测试结果...
一种监测电路、方法、芯片及电子设备
本申请公开了一种监测电路、方法、芯片及电子设备,包括:第一延迟链,用于传输第一脉冲以获得第一传播数据,第一传播数据通过在监测时长内第一脉冲在第一延迟链上经过m个第一延迟单元、未经过m+1个第一延迟单元表征;第二延迟链,用于传输第二脉冲;第三...
动力电池负极继电器诊断方法、装置、电子设备及介质
本发明涉及一种动力电池负极继电器诊断方法、装置、电子设备及介质,其中,所述方法包括:判断是否存在负极继电器诊断需求;若存在负极继电器诊断需求,则控制动力电池高压回路中的预充继电器闭合,并获取正极继电器的第一侧电压、正极继电器的第二侧电压、当...
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