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最新专利技术
  • 一种永磁同步电机的控制电路及其识别方法
    一种永磁同步电机的控制电路及其识别方法_福建睿能科技股份有限公司_202610283944.7
    本申请公开了一种永磁同步电机的控制电路及其识别方法，脉冲发生电路提供第一驱动信号，比较电路将第一电流与第一参考电流进行比较，并在第一电流大于或等于第一参考电流输出第一电平，脉冲捕获电路获取第一驱动信号的第一时间，转换电路采集到逆变电路的母线...
    2026-04-23
  • 一种多量程电流测量电路及方法
    一种多量程电流测量电路及方法_艾德克斯电子(南京)有限公司_202610303707.2
    本发明公开了一种多量程电流测量电路及方法，电路包括大量程测量支路、中量程测量支路、中量程电流旁路、小量程测量支路、小量程电流旁路及放大电路，待测物电流经大量程测量电阻后分为两个支路，一个支路电流经中量程电流旁路接地，另一个支路电流流入中量程...
    2026-04-23
  • 电能表和用电设备
    电能表和用电设备_深圳市科陆电子科技股份有限公司_202510868519.X
    本发明公开了一种电能表和用电设备，涉及电子仪表技术领域，其中，电能表应用于用电设备，用电设备设置有接线件，接线件包括电连接的接线部和连接柱，接线部显露于用电设备外，电能表包括壳体、电路板和分流器；壳体设置有固定结构，壳体的相对两侧分别凹设有...
    2026-04-23
  • 一种电场传感器非侵入式封装制备方法及电场传感器
    一种电场传感器非侵入式封装制备方法及电场传感器_中国南方电网有限责任公司超高压输电公司电力科研院_202610051741.5
    本发明公开了一种电场传感器非侵入式封装制备方法及电场传感器，其中方法包括对器件层进行刻蚀得到若干固定感应电极以及电极间的隔离槽。在器件层上设置电场感应区域，对电场感应区域进行刻蚀得到若干可动屏蔽电极，可动屏蔽电极与固定感应电极间设置刻蚀间隙...
    2026-04-23
  • 一种电表制造工艺
    一种电表制造工艺_张宏达_202310576202.X
    本发明属于电表制备技术领域，尤其涉及一种电表制造工艺，包括以下步骤：步骤一：将多个电表依次放置在印记装置中；步骤二：利用印记装置使多个电表均由左至右逐渐移动；步骤三：使用印记装置分别在多个电表上依次印上多个数字大小由小至大逐渐增加的数字涂料...
    2026-04-23
  • 一种基于ATE测试的高精度模拟前端扇出电路
    一种基于ATE测试的高精度模拟前端扇出电路_悦芯科技股份有限公司_202610065018.2
    本发明涉及功能测试技术领域，具体公开了一种基于ATE测试的高精度模拟前端扇出电路，包括：信号输入端，用于接收DAC芯片输出的测试信号；电压调整电路，用于对输入的测试信号的幅度进行调节；滤波器选择电路，用于切换不同带宽的滤波通道；滤波器电路，...
    2026-04-23
  • 一种闭环自激振荡磁通门电流传感器的单向饱和恢复电路
    一种闭环自激振荡磁通门电流传感器的单向饱和恢复电路_河北工业大学_202610062488.3
    本发明为一种闭环自激振荡磁通门电流传感器的单向饱和恢复电路，所述传感器包括磁通门探头和反馈控制电路，所述磁通门探头包含激励磁芯、激励绕组和反馈绕组；所述反馈控制电路包括反馈控制器，用于通过调节反馈电流维持所述磁通门探头处于零磁通平衡状态；所...
    2026-04-23
  • 一种面向大面积二维材料的无损伤电学性质检测系统及其测试方法
    一种面向大面积二维材料的无损伤电学性质检测系统及其测试方法_南京大学_202610057768.5
    本发明公开一种面向大面积二维材料的无损伤电学性质检测的测试系统和测试方法，包括控制系统、集成柔性探针阵列、半自动真空探针台、半导体数据分析仪、抽真空系统和显微镜，集成柔性探针阵列置于半自动真空探针台内部正上方，显微镜置于半自动真空探针台外部...
    2026-04-23
  • 探针卡
    探针卡_日本电子材料株式会社_202610060267.2
    本发明的目的在于，提供一种探针卡，将在引导板的引导孔插通的探针卡止在引导板以使得不会脱落，并且能以更窄间距配置。探针卡具备：2个以上的探针(200)；和具有分别插通探针的2个以上的第1引导孔(14h)的第1引导板(14)，探针相对于第1引导...
    2026-04-23
  • 薄膜针卡
    薄膜针卡_苏州晶晟微纳半导体科技有限公司_202512041695.9
    本发明属于晶圆测试技术领域，公开了一种薄膜针卡。该薄膜针卡包括主体单元和弹性支撑单元，主体单元的空心支撑体固定设置于PCB板上，薄膜铺设于空心支撑体远离PCB板的一端，薄膜外表面设置有若干个针尖，针尖用于接触芯片的待测点；弹性支撑单元的空心...
    2026-04-23
  • 半导体芯片测试智能化自适应电流探针系统
    半导体芯片测试智能化自适应电流探针系统_东莞市旭锐精密科技有限公司_202512028492.6
    本发明公开了一种半导体芯片测试智能化自适应电流探针系统，包括探针组件和控制模块，探针组件包括管壳、探针、弹簧和显位结构，显位结构固定连接在探针上，探针在受压时使得探针和显位结构一并沿弹簧压缩的方向位移，管壳内侧设有用于显位结构位移的长槽；长...
    2026-04-23
  • 一种尖型针尾的MEMS探针
    一种尖型针尾的MEMS探针_苏州和林微纳科技股份有限公司_202512016564.5
    本发明公开了一种尖型针尾的MEMS探针，包括针头、针身和针尾，所述针头包括针头本体和针头端部，所述针头端部的横截面呈倒梯形结构；所述针身呈竖直状，其具有弹性；所述针尾包括针尾本体和针尾端部，所述针尾本体上设置有针尾凸出部和针尾凹槽，所述针尾...
    2026-04-23
  • 一种Kelvin探针物理限位的测试结构
    一种Kelvin探针物理限位的测试结构_苏州和林微纳科技股份有限公司_202512016430.3
    本发明公开了一种Kelvin探针物理限位的测试结构，包括探针治具和装入其内探针，所述探针治具内设置有装配所述探针的腔体，所述探针包括针头、针身和针尾，所述针头和针身装入腔体中，所述针头的针尖部穿过腔体，所述针头由圆柱体分别在左侧、右侧、前侧...
    2026-04-23
  • 一种用于MEMS探针的复合金属结构的制备方法
    一种用于MEMS探针的复合金属结构的制备方法_上海道格特科技有限公司_202511986413.6
    本发明涉及探针卡制作工艺技术领域，提供一种用于MEMS探针的复合金属结构的制备方法，其包括：提供一硅基板；在硅基板上依次形成钛金属打底层、镍金属打底层和铜种子层；在铜种子层上形成图形化电镀金属层；通过湿法刻蚀工艺移除钛金属打底层、镍金属打底...
    2026-04-23
  • 一种电气特性检测装置用针单元
    一种电气特性检测装置用针单元_儒众智能科技(苏州)有限公司_202511896104.X
    本申请公开了一种电气特性检测装置用针单元，涉及半导体测试技术领域，改善了现有技术中针单元插入操作困难及弯曲时相互干扰的问题，其包括具有纵向延伸的主体、设置于主体上端的针头、设置于主体下端的针尖以及形成于主体一侧的弯曲引导部；针头从主体的上端...
    2026-04-23
  • 一种电路板测试用装夹装置
    一种电路板测试用装夹装置_福州英诺电子科技有限公司_202610230102.5
    本申请公开了一种电路板测试用装夹装置，涉及装夹装置的技术领域，包括测试座，测试座顶部设置有测试区，测试座内设置有测试部，测试部设置有测试柱；支撑柱，测试区位于相对支撑柱之间；装夹盘，转动连接于其中一个支撑柱，且装夹盘上下滑动于支撑柱，测试座...
    2026-04-23
  • 一种用于消防的弱电检测装置
    一种用于消防的弱电检测装置_广东为众消防科技股份有限公司_202610099069.7
    本发明公开了一种用于消防的弱电检测装置，具体涉及弱电检测技术领域，包括底座，底座上设置有全维度适配检测组件，全维度适配检测组件包括设置在底座顶部的托板，托板的顶部设置有用于电磁屏蔽的电磁屏蔽板。本发明通过U形布局的第一围绕块、第二围绕块与可...
    2026-04-23
  • 一种便携式时间继电器校验底座
    一种便携式时间继电器校验底座_华能澜沧江水电股份有限公司_202610086224.1
    本公开提出一种便携式时间继电器校验底座，包括：底座本体，底座本体设置有多个插孔，且多个插孔分别和时间继电器的多个针脚相对设置，插孔用于插设对应的时间继电器针脚；多个快速接口，多个快速接口分别设置在底座本体上，且多个快速接口分别用于和校验装置...
    2026-04-23
  • 一种电缆抑制电磁干扰信号的测量夹具
    一种电缆抑制电磁干扰信号的测量夹具_天水铁路电缆有限责任公司_202610078682.0
    本发明涉及电线电缆检测设备技术领域，公开了一种电缆抑制电磁干扰信号的测量夹具，包括一个全铜基座，其上竖直固定有两根位移导杆；一个可沿导杆滑动的位移滑块，由带调节手轮的梯形螺纹螺杆驱动；一套用于锁定位移滑块位置的闭锁机构；以及安装在位移滑块上...
    2026-04-23
  • 一种横置式芯片测试装置
    一种横置式芯片测试装置_深圳市嘉合劲威电子科技有限公司_202610025778.0
    本发明涉及一种横置式芯片测试装置，其特征在于：包括数个芯片治具、横置轨道、横移电流测试头以及横移信号测试头，其中，数个该芯片治具顺序滑动设置在该横置轨道上，每一个该芯片治具上都设置有数个芯片，当一个该芯片治具沿该横置轨道移动到测试工位位置时...
    2026-04-23
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